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碳化硅粉中含碳量測定方法的研究 Study on the Determination Method of Carbon in Silicon Carbide Powder :采用高頻紅外碳硫分析儀對SiC粉中的含C量測定方法進行了研究,其中對試樣的預(yù)處理、助熔劑、分析時間、試樣用量等問題進行了探討.試驗結(jié)果表明,該方法操作簡便,快速,準確,取得較為滿意的效果.

采用高頻紅外碳硫分析儀對SiC粉中的含C量測定方法進行了研究,其中對試樣的預(yù)處理、助熔劑、分析時間、試樣用量等問題進行了探討.試驗結(jié)果表明,該方法操作簡便,快速,準確,取得較為滿意的效果.

碳化硅粉中含碳量測定方法的研究-《真空電子技術(shù)》2006年第04期:電真空陶瓷是真空電子器件中重要的介質(zhì)材料,其中Al2O3瓷具有用量大和使用范圍廣的特點是眾所周知的,BeO瓷、BN瓷的應(yīng)用也比較普及。隨著科技的發(fā)展,一些新材料的研制和應(yīng)用在逐漸開展,如:AlN瓷、SiC瓷等。SiC瓷具有高溫穩(wěn)定性和高熱導(dǎo)率,在航空航天領(lǐng)域已得到了應(yīng)用,其良好的衰減性能和高熱導(dǎo)率則更適合應(yīng)用于真空電子器件,北京真空電子技術(shù)研究所八室已經(jīng)在開展此項工作的研究。SiC瓷所用原料SiC粉的純度是制瓷的基礎(chǔ)和關(guān)鍵,因此測定SiC的準確含量,對理化分析提出了新的更高要求。由于原料中不僅含有Si的碳化物,還含有Si的其它化合物,如Si3N4,SiO2等,若采用經(jīng)典的化學(xué)分析方法,只能測定Si的含量而不能準確說明SiC的含量。作者利用現(xiàn)有的EMIA-820V碳硫分析儀,對原料中的C含量進。

紅外吸收法測定鋁碳化硅碳磚中碳化硅量-《武鋼技術(shù)》2002年06期:紅外吸收法測定鋁碳化硅碳磚中碳化硅量

1 前 言鋁碳化硅碳磚主要成分為氧化鋁、氧化硅、碳化硅和游離碳 ,其中氧化鋁含量約為 6 5 %,碳化硅含量約為 1 5 %,游離碳含量約為 1 5 %。含碳質(zhì)碳化硅制品中碳化硅的分析一直是難點。通常碳化硅制品中碳化硅的測定有兩種方法[1 ] :一種方法是氫氟酸揮散法將試樣中金屬硅和二氧化硅與碳化硅分離 ,通過測定碳化硅中硅的含量 ,換算出碳化硅量 ;另一種方法是將試樣中其它化學(xué)形態(tài)的碳與碳化硅中碳分離 ,通過測定碳化硅中碳換算出碳化硅量。種方法操作煩瑣、復(fù)雜 ,流程長 ,難以滿足生產(chǎn)的需求 ;種方法快速簡便 ,但對儀器精密度及環(huán)境要求高 ,且必須將碳化硅制品中碳化硅的碳與其它化學(xué)形態(tài)的碳完全分離。根據(jù)碳化硅化學(xué)性能穩(wěn)定的特點 ,對耐火材。

碳化硅粉中含碳量測定方法的研究:刊 名真空電子技術(shù), 2006(4): 71-73關(guān)鍵詞SiC碳硫分析儀 高頻感應(yīng)爐 紅外池吸收 預(yù)處理 助熔劑文 摘采用高頻紅外碳硫分析儀對SiC粉中的含C量測定方法進行了研究，其中對試樣的預(yù)處理、助熔劑、分析時間、試樣用量等問題進行了探討。試驗結(jié)果表明，該方法操作簡便，快速，準確，取得較為滿意的效果。下載地址點此下載。

紅外碳硫分析儀測定碳化硅粉中含碳量_技術(shù)前沿:2013/1/18 13:36:12來源：中國化工儀器網(wǎng) 本文采用對SiC粉中的含C量測定方法進行了研究，其中對試樣的預(yù)處理、助熔劑、分析時間、試樣用量等問題進行了探討。試驗結(jié)果表明，該方法操作簡便，快速，準確，取得較為滿意的效果。電真空陶瓷是真空電子器件中重要的介質(zhì)材料，其中Al2O3瓷具有用量大和使用范圍廣的特點是眾所周知的，BeO瓷、BN瓷的應(yīng)用也比較普及。隨著科技的發(fā)展，一些新材料的研制和應(yīng)用在逐漸開展，如:AlN瓷、SiC瓷等。SiC瓷具有高溫穩(wěn)定性和高熱導(dǎo)率，在航空航天領(lǐng)域已得到了應(yīng)用，其良好的衰減性能和高熱導(dǎo)率則更適合應(yīng)用于真空電子器件，北京真空電子技術(shù)研究所八室已經(jīng)在開展此項工作的研究。SiC瓷所用原料SiC粉的純度是制瓷的基礎(chǔ)和關(guān)鍵，因此測定SiC的準確含量，對理化分析提出。